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BAMFITテスター
ボンディング用 テスト装置
BAMFITテスター
設備概要
BAMFITは太いワイヤーウェッジボンドの信頼性を評価する為の全く新しいテスト方法です。
これは現在のパワーサイクリングテストの進化系です。
温度変化によってワイヤーボンドに与えるサイクルストレスは機械的に与えるストレスに置き換えられますが、機械的ストレでは大幅に時間を短縮出来ます。
この方式により、数週間または数か月かかる可能性のあるパワーサイクリングテストを数分に要約出来ます。
特許出願中のBAMFITテスターはプロセス診断やボンドパラメータの最適化に貢献し、最終的にはワイヤーボンドの寿命及び信頼性の向上に役立ちます。
装置仕様
ベースマシン
| ワークエリア |
X/Y軸 : 100×100mm Z軸 : 60mm |
|---|---|
| 各軸 |
ステップ解像度 : 0.25μ¥¥ 再現性 : ＜2μm |
| テストヘッド |
自動識別機能を備えたユーザー交換可能なボンド及びテストヘッド |
| ハードウェア |
WindowsOS及びイーサネットを搭載したデュアルコアPC USB2.0/3.0 LCDカラーディスプレイ 22“ GigE-CMOS-Color camera プログラムアーカイブと互換性のあるネットワーク |
| ソフトウェア |
任意の数のボンディングをマニュアルもしくは自動で 測定 プログラミングを容易にするCADデータのインポート |
| 寸法 |
700×650×700mm(B×T×H)、重量 : 80kg |
| 電源 |
100-240 VAC.,single phase,50/60Hz,max500VA 標準バキュームチューブφ6mm |
テストシステム
| テストヘッド |
独自のクランプツールがボンドフット側面を定義された高さでグリップします。 タッチダウンシステムは基板高さの変動を自動的に補正します。 |
|---|---|
| テストツール |
125～400μm太線ワイヤー用 ツール交換はユーザー側で対応可能(交換所要時間 : 1～2分) |
| テスト時間 |
1テスト / 1分以内 |
| テスト荷重 |
Z方向のプル荷重 通常20～50cN |
| テスト周波数 |
60及び80kHz, プログラム可能な超音波発振器 |
| テスト振幅 |
0～1μmの間で調整可能 |
| テストデータ |
ツールポジション,超音波データ…は継続的に記録され、その後の評価の為に保存されます 統計と分析はCSRソフトウェアを使用する事で簡単に実行可能です |
特徴
革新的なBAMFITテストは専用のテストヘッドを取付ける事により従来の56XXシリーズ全てのベースユニットを使用してテストを行う事が可能
BAMFITソフトウェアは従来のボンダー及びテスターソフトウェアと密接に関連
パターン認識による自動補正を採用し任意の数のボンディングを自動でテストする事が可能
テスト結果はSQLデータベースに記録され様々な方法でいつでも評価が可能
